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  • CY3610 Plaque de diffraction zéro pour XRD, cristal de Si

    • CY3610 Plaque de diffraction zéro pour XRD, cristal de Si

    Catalogue No. CY3610
    Matériau Cristal de Si
    Diamètre 1-12 pouces
    Méthode de croissance CZ, MCZ, FZ
    Grade Prime, Test, Dummy

    Laplaque de diffraction zéro pour XRD est fabriquée en monocristal de Si et sert de support d'échantillon. Stanford Advanced Materials (SAM) possède une grande expérience dans la fabrication et la fourniture de produits optiques de haute qualité.

    Produits connexes : Plaquette de silicium, plaquette de nitrure de gallium, plaquette de saphir, plaquette de carbure de silicium, plaquette de germanium (plaquette Ge).

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