{{flagHref}}
Produits
  • Produits
  • Catégories
  • Blog
  • Podcast
  • Application
  • Document
|
/ {{languageFlag}}
Sélectionnez la langue
Stanford Advanced Materials {{item.label}}
Stanford Advanced Materials
Sélectionnez la langue
Stanford Advanced Materials {{item.label}}

ST11205 Cible rotative Nickel Vanadium, cible NiV

Catalogue No. ST11205
Composition Ni, V
Pureté ≥99,9%, ou personnalisé
Formulaire Cible
Forme Tubulaire
Dimensions Sur mesure

La cible rotative Nickel Vanadium, NiV Target, est conçue pour les applications de pulvérisation où le dépôt de film contrôlé est essentiel. Fabriquée par Stanford Advanced Materials (SAM), la cible est produite avec des contrôles de composition rigoureux et validée par des protocoles d'inspection basés sur le MEB. SAM utilise des techniques précises d'usinage et de mélange d'alliages qui minimisent la variabilité, garantissant que les propriétés du matériau s'alignent sur les spécifications exigeantes des processus de dépôt de film avancés.

ENQUÊTE
Ajouter à la comparaison
Description
Spécifications
Avis

FAQ

Comment la fonction de dimensions personnalisées affecte-t-elle l'uniformité du dépôt de film ?

Les dimensions personnalisées permettent aux ingénieurs de procédés d'adapter la taille de la cible aux chambres de dépôt, ce qui favorise une érosion uniforme et une épaisseur de film constante. L'ajustement de la taille de la cible peut améliorer l'efficacité du dépôt. Pour plus de détails, contactez-nous.

Quelles sont les mesures de contrôle de la qualité essentielles lors de la production d'une cible NiV ?

Le processus de production comprend la vérification de la composition de l'alliage et l'imagerie de la surface à l'aide d'un MEB. Ces mesures permettent de détecter les incohérences dans la structure du matériau, garantissant ainsi que la cible répond aux exigences précises des applications de pulvérisation. Pour plus d'informations, contactez-nous.

Comment les ingénieurs de procédé peuvent-ils optimiser les paramètres de pulvérisation lors de l'utilisation d'une cible NiV ?

Les ingénieurs de procédé doivent tenir compte de facteurs tels que la puissance de pulvérisation, la pression et la distance du substrat. Le réglage précis de ces paramètres, associé à la composition cohérente de l'alliage de la cible, permet d'obtenir un dépôt de film optimal et une stabilité du processus. Pour des directives spécifiques, contactez-nous.

OBTENIR UN DEVIS

Envoyez-nous une demande dès aujourd'hui pour en savoir plus et recevoir les derniers tarifs. Merci !

* Votre nom
* Votre Email
* Nom du produit
* Votre téléphone
* Pays

France

    Commentaires
    Je souhaite rejoindre la liste de diffusion pour recevoir des mises à jour de Stanford Advanced Materials.
    Joindre les dessins:

    Déposez vos fichiers ici ou

    * Code de vérification
    Types de fichiers acceptés : PDF, png, jpg, jpeg. Vous pouvez télécharger plusieurs fichiers à la fois ; chaque fichier doit avoir une taille inférieure à 2 Mo.
    Laisser un message
    Laisser un message
    * Votre nom:
    * Votre Email:
    * Nom du produit:
    * Votre téléphone:
    * Commentaires: