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Stanford Advanced Materials
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ST11184 Cible de pulvérisation planaire cuivre indium gallium, cible CIG

Catalogue No. ST11184
Composition Cu, In, Ga
Pureté ≥99,995%, ou sur mesure
Formulaire Cible
Forme Rectangulaire
Dimensions Sur mesure

La cible de pulvérisation planaire cuivre indium gallium (CIG Target) est un matériau de pulvérisation préparé avec une composition contrôlée pour les applications de dépôt de couches minces. Stanford Advanced Materials (SAM) utilise des techniques avancées de dépôt sous vide et d'inspection de surface, telles que l'analyse MEB, pour contrôler l'uniformité de la microstructure et la précision de la composition. Le processus comprend des tests systématiques par lots pour s'assurer que chaque cible répond à des critères rigoureux en matière de dimensions et de composition.

ENQUÊTE
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Description
Spécifications
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FAQ

Comment la dimension personnalisée de la cible de pulvérisation influe-t-elle sur l'uniformité du film ?

Les dimensions personnalisées permettent une adaptation précise aux géométries des systèmes de dépôt. La distribution du plasma sur la cible est ainsi optimisée, ce qui permet d'obtenir un film mince plus uniforme sur le substrat. Les ajustements de la taille de la cible peuvent aider à contrôler les taux de dépôt et l'uniformité de l'épaisseur du film. Contactez-nous pour plus d'informations.

Quel rôle joue la composition de l'alliage dans les performances du processus de pulvérisation ?

La composition spécifique de l'alliage de cuivre, d'indium et de gallium affecte à la fois le rendement de la pulvérisation et la microstructure du film. Le maintien d'un équilibre strict de la composition est crucial pour obtenir les caractéristiques électriques et optiques souhaitées dans les films déposés. Il est possible d'ajuster le processus en fonction des exigences de l'application.

Quelles sont les mesures de contrôle de la qualité prises pendant la production pour minimiser la contamination par les particules ?

Le contrôle de la qualité comprend la vérification de la propreté de la surface à l'aide de la microscopie optique et du comptage des particules. Ces mesures garantissent que les contaminants restent en deçà des seuils critiques, ce qui permet de maintenir l'intégrité et la cohérence de la surface cible pendant la pulvérisation. Contactez-nous pour obtenir des informations détaillées sur le processus.

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