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Stanford Advanced Materials
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CY9510 Plaquette de silicium Type P (100) Dia. 5 pouces, SSP

Catalogue No. CY9510
Matériau Silicium
Forme Cercle
Formulaire Plaquette

Plaquette de silicium de type P (100) Dia. Stanford Advanced Materials (SAM) utilise des méthodes de croissance épitaxiale avancées et un tranchage de haute précision des tranches, suivis d'une inspection par microscopie optique et diffraction des rayons X. Ces mesures garantissent des niveaux d'impureté et une planéité de surface bien contrôlés, répondant aux exigences rigoureuses du traitement des substrats semi-conducteurs tout en réduisant au minimum la densité des défauts. Ces mesures garantissent des niveaux d'impureté et une planéité de surface bien contrôlés, répondant ainsi aux exigences rigoureuses du traitement des substrats semi-conducteurs tout en minimisant la densité des défauts.

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